從90年代末至今，近場微波成像已經(jīng)引起了學者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標散射近場的復雜性，致使近場微波成像遠遠滯后于遠場成像。近場微波成像中，著眼于潛在的應用，目標函數(shù)既可以是理想導體目標的輪廓函數(shù)，也可以是目標介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標的相對運動方式來看，近場微波成像有兩種模式：即直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺模式，研究方法可分為電磁逆散射法和球背向投影法（SphericalBackProjection，簡寫為SBP）。其中電磁逆散射法散射機理清晰，但數(shù)學公式復雜且有很大的局限性，因而，實際中使用較少；而球背向投影法在實際中使用較多。利用球背向投影法在直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺模式情況下的目標函數(shù)解析公式已經(jīng)給出。和近場類似，遠場的起始也沒有統(tǒng)一的定義。福建電磁波近場輻射系統(tǒng)價格

天線口徑場分布診斷是通過測量天線近區(qū)場的分布逆推出天線口徑場分布，從而判斷出口徑場畸變處所對應的輻射單元，這就是天線口徑分布診斷的基本原理。該方法對具有一維圓對稱天線口徑分布的分析是可靠的，尤其對相控陣天線的分析與測量已有了充分的可信度。天線方向圖副瓣電平在-28～-35dB之間的天線稱為低副瓣天線；副瓣電平小于-40dB的天線稱為很低副瓣天線。對它們的測量要用到“零探頭”技術(shù)，據(jù)文獻報導，副瓣電平在-40dB以上時，測量精度為±3dB，副瓣電平為-55dB時，測量精度為±5dB。江蘇汽車電子近場輻射測試方法場的強度和天線的距離成反比(1/ r3)。

眾所周知，在離開被測目標3λ～5λ（λ為工作波長）距離上測量該區(qū)域電磁場的技術(shù)稱為技術(shù)。如果被測目標是器，則稱為輻射近場測量；若被測目標是體，則稱為散射近場測量；對測得散射體的散射近場信息進行反演或逆推就能得到目標的像函數(shù)，這就是目標近場成像。但是，截止目前為止，關(guān)于輻射、散射近場測量以及溶為一體的綜述性文章還未見到公開的報導，這對從事這方面研究的學者無疑是一種遺憾。為使同行們能全部地了解該技術(shù)的發(fā)展動態(tài)，該文概述了近幾十年來關(guān)于輻射、散射近場測量及近場成像技術(shù)前人所做的工作及其新進展，并指出了未來研究的主要方向。

輻射近場測量的研究起始于50年代，70年代中期處于推廣應用階段（商品化階段）。目前，分布在世界各地的近場測量系統(tǒng)已有100多套。該技術(shù)的基本理論已基本成熟，這種測量方法的電參數(shù)測量精度比常規(guī)遠場測量方法的測量精度要高得多，而且可全天候工作，并具有較高的保密性，因此，在民用中都顯示出了它獨特的優(yōu)越性。輻射近場測量研究的主要成果，幾十年來，輻射近場測量的研究在以下4個方面取得了突破性的進展：常規(guī)天線電參數(shù)的測量，天線近場測量可以給出天線各個截面的方向圖以及立體方向圖，可以分析出方向圖上的所有電參數(shù)（波束寬度、副瓣電平、零值深度、零深位置等）和天線的極化參數(shù)（軸比、傾角和旋向）以及天線的增益。在數(shù)學上的電場強度，可以被看作是兩個部分的總和。

電磁兼容性（ElectromagneticCompatibility，簡稱EMC）是指設備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運行并不對其環(huán)境中的任何設備產(chǎn)生無法忍受的電磁干擾的能力。因此，EMC包括兩個方面的要求：一方面是指設備在正常運行過程中對所在環(huán)境產(chǎn)生的電磁干擾不能超過一定的限值，即電磁干擾(ElectromagneticInterference簡稱EMI)；另一方面是指器件對所在環(huán)境中存在的電磁干擾具有一定程度的抗擾度，即電磁敏感性（ElectroMagneticSusceptibility，簡稱EMS）。電磁干擾(ElectromagneticInterference簡稱EMI)又分為傳導干擾和輻射干擾兩種。傳導干擾是指通過導電介質(zhì)把一個電網(wǎng)絡上的信號耦合(干擾)到另一個電網(wǎng)絡。輻射干擾是指干擾源通過空間把其信號耦合(干擾)到另一個電網(wǎng)絡，在高速PCB及系統(tǒng)設計中，高頻信號線、集成電路的引腳、各類接插件等都可能成為具有天線特性的輻射干擾源，能發(fā)射電磁波并影響其他系統(tǒng)或本系統(tǒng)內(nèi)其他子系統(tǒng)的正常工作。根據(jù)天線的種類，一種場會成為主導。江蘇汽車電子近場輻射測試方法

按照與天線距離的遠近，又把輻射場區(qū)分為輻射近場區(qū)和輻射遠場區(qū)。福建電磁波近場輻射系統(tǒng)價格

傳統(tǒng)的EMI輻射測試往往借助EMI接收機，在專業(yè)實驗室的暗室里進行，這固然可以對產(chǎn)品的整體EMI輻射做嚴格的測試，但往往測試周期長、費用較高，加之遠場測試只能測出結(jié)果，而不能給出具體輻射的位置，所以給產(chǎn)品的設計和改善帶來不小的麻煩。隨著測試測量儀器的發(fā)展，近幾年，近場探頭和頻譜分析儀的組合個EMI輻射的測試定位帶來了新的方向。為采用一個近場探頭和實時頻譜分析儀對一個電路進行輻射源的查找，我們可以很清楚的觀測到在近場探頭附件有四個主要頻率的輻射，這對于硬件工程師進行設計的改善是具有極大幫助的。福建電磁波近場輻射系統(tǒng)價格

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